TO-CAN 封裝外觀檢測系統
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產品名稱: TO-CAN 封裝外觀檢測系統
產品型號: 7925
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
具備自動對焦功能，可克服載盤制造公差內的高度差異
檢測完成后可依設定規格挑揀**品
提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性
每小時*高可檢測3600顆待測物
自動化上下料盤，減少人員上下料時間
提供完整的檢測資料，包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析
TO-CAN 封裝外觀檢測系統
的詳細介紹
產品特色
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可檢測TO-CAN 封裝金屬外蓋與透鏡之刮傷、破裂、異物及膠合**等缺陷
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具備自動對焦功能，可克服載盤制造公差內的高度差異
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檢測完成后可依設定規格挑揀**品
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提供比人工目檢更佳的可靠度及重復性
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每小時*高可檢測3600顆待測物
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自動化上下料盤，減少人員上下料時間
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提供完整的檢測資料，包含檢測數據及缺陷影像以供工程分析
Chroma 7925為自動化TO-CAN封裝外觀檢測系統，可提供封裝前后的透鏡與金屬外蓋缺陷進行檢測。透過高解析度之鏡頭以及多樣的光源配置，可檢出30um以上的透鏡刮傷及異物。由于載盤可能存在制造公差導致待測物對焦距離均不相同，Chroma 7925配置了自動對焦系統，可自動計算待測物之對焦距離并進行補償，以確保可以取得清楚的檢測影像。
使用者可以自由設定良品與**品之規則及缺陷編碼，并依據編碼進行挑揀。從上片、檢測、挑揀及下片均為全自動化流程，大幅降低人員操作及制程管理發生錯誤的機會。檢測完成后，工程師可以取得詳細的缺陷量化數據，以及儲存缺陷影像以利于再判讀。相較于人工目檢無法保留檢測資料，使用Chroma 7925所取得之資料，將有助于分析制程問題，并進一步提升產品良率。
TO-CAN Defect Items
