LED 覆晶型全光通量自動測試系統
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產品名稱: LED 覆晶型全光通量自動測試系統
產品型號: Model 58173-FC
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔
簡單介紹
硬體設備
半自動化 LED wafer/chip 點測設備
漏電流測試模組
電源量測單元
光學測試模組
ESD 測試模組 (選配)
LED 覆晶型全光通量自動測試系統
的詳細介紹
主要特色：
- 提供全方位電性測試 (200V/2A) ，可滿足HV及HP測試
- Chroma大面積光偵測器(量測角度可達148度)
- 半自動精密LED wafer/chip點測設備
- 特殊無鉆孔真空平臺設計
- 特制Edge Sensor具有點測針壓穩定，無疲乏與針壓變動問題
- 獨特螢幕直覺式調針方式
- 機械視覺定位系統，縮短人工操作時間
- Prober與Tester整合，效益大幅提升
- 自動抽測功能
- 廣泛的芯片尺寸應用(滿足Chip Size 7~120 mil測試)
- 彈性調整的軟體操作界面
- 快速芯片掃描系統
- 自動破片掃描演算法
- 遮光罩設計，杜絕背景光干擾
- 即時顯示點測資料分布圖
58173-FC為針對覆晶型(Flip Chip) LED開發的半自 動點測設備。特殊的無鉆孔玻璃平臺設計使得收光路徑上無任何干涉，因而達到更加精 準的量測。
延用致茂研發的高速精準的LED全光通量的量測 方式 ，這種**的量測方式不僅比傳統 方式收集更多的LED部分光通量，也明顯的改善 提升了量測準確度。
在光學量測方面，主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得**且穩 定快速之數據；在電性測試方面，58173-FC 則 具備完整之電源量測單元，無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性，均可于一 次滿足使用者的測試需求。
58173-FC將Prober和Tester完全整合，搭配彈性 調整的軟體操作界面及*佳邏輯演算法使得生產 效益大幅提升 ；完善的量產測試統計報表及分 析工具可以讓使用者用輕松掌握生產狀況。
- 完善的量產測試統計報表及分析工具
