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產品資料

LED 全光通量自動測試系統

如果您對該產品感興趣的話,可以
產品名稱: LED 全光通量自動測試系統
產品型號: Model 58173
產品展商: Chroma
產品文檔: 無相關文檔

簡單介紹

硬體設備 半自動 LED wafer/chip 點測設備 漏電流測試模組 電源量測單元 光學測試模組 ESD 測試模組 (選配)


LED 全光通量自動測試系統  的詳細介紹
主要特色:
  • 提供全方位電性測試 (200V/2A) ,可滿足HV及HP測試
  • Chroma大面積光偵測器(量測角度可達128度)
  • 半自動精密LED wafer/chip點測設備
  • 特制Edge Sensor具有點測針壓穩定,無疲乏與針壓變動問題
  • 機械視覺定位系統,縮短人工操作時間
  • 自動抽測功能
  • 彈性調整的軟體操作界面
  • 快速芯片掃描系統
  • 自動破片掃描演算法
  • 遮光罩設計,杜絕背景光干擾
  • 即時顯示點測資料分布圖
  • 完善的量產測試統計報表及分析工具

    Chroma 58173 是一組全新獨特的量測 LED 全光 通量之自動化測試系統。在LED的裸晶與晶粒測 試生產線中,常見使用部份光通量來取代全光通 量之量測方式 (見圖1)。然而,傳統的方式存在 一些缺點,例如:準確度較低、訊噪比較低、測 試時間較長等,以致于導入LED 的裸晶與晶粒生 產線時會發生問題。

    致茂研發出一種全新、高速且高**度之 LED 全光通量之量測方式(見圖2)。 這種**的量測 方式不僅比傳統方式收集更多的 LED 部分光通 量,也明顯的改善提升了量測**度。

    在光學量測方面,主波長、峰波長、色溫等均可 透過致茂獨特的光學設計與元件取得**且穩定 快速之數據;在機構方面,58173 搭載一個6吋 的晶片載盤與校正基座,提供使用者一個完整 的校正與測試平臺;在電性測試方面,58173 則 具備完整之電源量測單元,無論順向電壓、漏電 流、逆向崩潰電壓等 LED 電性特性,均可于一 次滿足使用者的測試需求。

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